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隨著集成電路的集成度越來(lái)越高，電路越來(lái)越復(fù)雜，工作電壓越來(lái)越低，對(duì)環(huán)境穩(wěn)定性的要求也越高。
一方面由于電子設(shè)備內(nèi)部結(jié)構(gòu)高度集成化，從而造成設(shè)備耐壓、耐過(guò)電流的水平下降，對(duì)過(guò)壓和過(guò)流的承受能力下降，另一方面由于信號(hào)來(lái)源路徑增多，系統(tǒng)較以前更容易遭受過(guò)壓和過(guò)流侵入。
